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SE-VE光譜橢偏儀 參考價:面議
產品簡介:SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案,緊...SE-VM光譜橢偏儀 參考價:面議
產品簡介:SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速...ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀 參考價:面議
ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入,其采用行業前沿的創新技術,包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣...