TF200薄膜厚度測量系統(tǒng) 參考價:面議
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200薄膜...SGC-10薄膜測厚儀 參考價:面議
SGC-10薄膜測厚儀適用于介質(zhì),半導(dǎo)體,薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀,是我公司與美國new-span公司合作研制的,采用new-spa...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)