新品上市
蔡司雙束電鏡
Crossbeam 550 Samplefab
蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
作為一款專為半導體行業 TEM 樣品制備開發的
聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)
Crossbeam 550 Samplefab 提供優異的靈活性
自動化功能和用戶友好設計
幫助半導體行業的樣品制備更加簡便高效
全新界面
用戶友好的軟件操作體驗
配備直觀的行業標準圖形用戶界面
軟件功能模塊高度整合，輕松上手
無論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗
全新體驗
全自動TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動解決方案
實現無人值守的多點位TEM薄片制備
旨在優化工作流程，一位操作員即可控制多臺設備
提高生產力并確保樣品質量
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