XX-2型方塊電阻測試儀(FOUR-POINT PROBE METER)(手持式)



XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準而設計,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。



特點：1、采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定。

2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰

3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示

4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g

5、可配臺式探頭和特制之手握式探頭，對應可采用臺式和手握式操作，使用簡易

6、帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED)

7、單電源開關，推拉式探頭－主機接插件，操作極其簡便。



技術指標

測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(/口)

擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(/口)

測量不確定度≤5%

探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500 M

手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯線長度:約1.5M

訂貨信息



貨號 品名 備注 單價(元)

142200 XX-2型方塊電阻測試儀 主機、裝配DNT－1型或DNT－2型探頭(無測試臺) 8260.00/套

142204 DNT-1型四探針探頭 1582.00/只

142206 DNT-2型四探針探頭 1582.00/只

142205 DJ-2型電動測試臺 樣品直徑150mm,有效高度50mm 7960.00