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成都藤田科技有限公司
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具體成交價以合同協議為準
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- 19938139269,18284451551
- 地址：
- 中國四川省成都市郫都區創智東二路58號綠地銀座A座1118
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...
產品介紹
日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供
產品信息
特長
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），
0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m2的高亮度都可測量，
對應CIE推薦的寬波長范圍（355nm至835 nm）
光學系統降低了偏振誤差（<1％），
并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量
可以執行最短1秒的高速測量，包括通信時間。
（在連續測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）
可在不改變測量角度下測量的廣泛的亮度范圍。
（測量角度2°時，0.005cd / m2~4,000cd / m2）
可以對頻率照明光源執行高精度的穩定測量。
（輸入照明頻率自動將曝光時間設置為照明周期的整數倍）
搭載了對應響應測量的產品?！?br/>也可能對應人眼可視顏色外觀模型“CIECAM 02標準“的輸出?！?br/>考慮到眼睛薄度（浦肯野現象現象），也可對應“CIE 200：2011標準“的輸出。※
測定項目
-輻射率（W / sr / m 2）
- 亮度（cd / m 2）
- 色度坐標xy [符合CIE 1931]
- 色度坐標U'V'[CIE 1976兼容]
- 色度坐標U'V'[符合CIE 1976]
- 相關色溫 - 色度（C）* 3
- CIE顏色系統2°/ 10°
- 三刺激值XYZ - 等效亮度值* 4
- 偏差
- 光譜數據的算術運算
- 光譜數據的功能處理
- 色域(NTSC比率)* 1
- 響應速度* 2
- 明度（J）* 3
- 亮度（Q）* 3
- 飽和度(s)* 3
- 色度（C）* 3
- 色彩（M）* 3
* 1選項
* 2使用HS-1000 RT
* 3符合CIECAM 02標準時
* 4 CIE 200：符合2011標準時
用途：
LCD、PDP、有機EL，大屏幕LED等的視覺光譜數據•亮度•色度•相關色溫測量
照明光源的光譜數據，例如燈•亮度•色度•相關色溫測量
作為各種亮度/色度測量儀器的參考設備
對非接觸式物體的顏色測量
規格式樣
HS-1000 | |
|---|---|
測色方式 | 分光方式 |
波長范圍 | 355 nm ~ 835 nm / 330 nm ~ 1100 nm |
量測角 | 0.1°、0.2°、1°、2° |
測量距離※ | 24 0mm ~ ∞ |
測量面積直徑 | 約10.0m m以下 |
測量面積直徑 | 約5.0mm 以下 |
測量面積直徑 | 約1.0mm 以下 |
測量面積直徑 | 約0.5mm 以下 |
輝度精度 | ±2% |
色度精度 | ±0.002 以下 |
尺寸 | 187(W) x 249(H) x 400（D) mm 以下 |
重量 | 約7.5kg 以下 |
※以接物鏡頭之前端為起始
系統架構圖
核心特點：
超大基板全覆蓋：專為下一代尺寸玻璃基板設計（支持超長/超寬規格），可高效測量LCD、TFT、有機EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介電層等復雜膜層結構。
納米級精度與秒級速度：采用分光干涉+AI算法技術，單點測量時間＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光學常數（n/k）解析＜0.5%，滿足量產級質量控制需求。
全場景適配性：從研發實驗室到自動化產線，支持在線（inline）集成，可定制XYZ多軸平臺，實現基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查。
高速量產優化：每小時可檢測超3000點，支持多探頭并行測量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）產線效率，降低設備綜合成本（CoO）。
超薄與超厚膜通吃：量程覆蓋1nm至200μm，適用于OC（光學膠）、Resist（光刻膠）等軟膜與硬質涂層的精準厚度控制。
低維護：非接觸式測量設計，無探針損耗，長期使用穩定性達99.8%，搭配遠程診斷功能，減少停機風險。
日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供
