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日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào)
  • OTSUKA/日本大塚 品牌
  • 代理商 廠商性質(zhì)
  • 成都市 所在地

訪問(wèn)次數(shù):55更新時(shí)間:2025-02-22 10:45:54

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測(cè)量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊 支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 支持槽口對(duì)齊功能 小尺寸規(guī)格 高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元 自動(dòng)...
產(chǎn)品介紹

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測(cè)量系統(tǒng)-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息

  特點(diǎn)

● Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成

● 實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊

● 支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求

● 支持槽口對(duì)齊功能

● 小尺寸規(guī)格

● 高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元


  測(cè)量示例

TSV嵌入式圖形晶圓研磨后的硅厚度

晶圓厚度Φ300mm尺寸


特點(diǎn)

規(guī)格

自動(dòng)Mapping系統(tǒng)式樣表
名稱自動(dòng)Mapping系統(tǒng)Load Port對(duì)應(yīng)膜厚儀
型式--GS-300 series
樣品臺(tái)方式X-Y樣品臺(tái)R-θ樣品臺(tái)
光學(xué)系測(cè)量探頭 CCD相機(jī)同軸顯微測(cè)量頭 IR相機(jī)
大晶圓尺寸150mm以下300mm以下僅Ф300mm
晶圓角度補(bǔ)正
Pattern對(duì)準(zhǔn)
晶圓厚度范圍視分光干涉式晶圓厚度傳感器的式樣而定
設(shè)備尺寸(W×D×H)mm本體:570x600x780
控制器:500x273x177
(PC、顯示器尺寸除外)
本體:773x760x600
控制器:350x310x120
LED電源:90x160x80
(PC、顯示器尺寸除外)
500x500x1680
內(nèi)置PC
(顯示器、鍵盤尺寸除外)


測(cè)量示例

  測(cè)量示例

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測(cè)量系統(tǒng)

核心特點(diǎn)


  1. 非破壞性高速測(cè)量:采用顯微分光技術(shù),1秒內(nèi)完成單點(diǎn)對(duì)焦與測(cè)量,支持從紫外(230nm)到近紅外(1600nm)廣波長(zhǎng)范圍,覆蓋1nm至92μm膜厚需求,滿足半導(dǎo)體、光學(xué)材料等高精度場(chǎng)景。


  2. 透明基板技術(shù):反射對(duì)物鏡設(shè)計(jì),物理消除基板內(nèi)部反射干擾,實(shí)現(xiàn)玻璃、SiC等透明或異向性基板上的高精度膜厚測(cè)量,支持50層以上多層膜解析。


  3. 智能建模與易用性:內(nèi)置初學(xué)者模式,簡(jiǎn)化光學(xué)常數(shù)(n/k)建模流程,支持宏功能自定義測(cè)量序列,可無(wú)縫集成自動(dòng)化產(chǎn)線。


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