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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備 測量項目...
日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供
● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光譜/色度*
*選配功能追加
測量對象
● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光學材料
- 其他(相位差、橢圓、偏光膜、液晶材料)
仕 樣
型號 | RETS series |
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樣品尺寸 | 20mm x 20mm ~* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ~數10μm |
cell gap重復性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ~ 800nm |
光學系 | 偏光光學系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構 | -20 ~ 45°、-45 ~ 45°等 |
*也可用于大型玻璃基板(3000mmx3000mm以上)
測量案例
液晶面內分布圖
核心特點:
微區測量能力:最小光斑直徑3μm,搭配自動XY平臺(200×200mm),實現晶圓、FPD(如OLED、ITO膜)等微小區域的精準厚度分布映射。
跨行業適用性:專為半導體(SiO?/SiN膜)、顯示面板(彩色光阻)、DLC涂層等行業設計,支持粗糙表面、傾斜結構及復雜光學異向性樣品的分析。
安全與擴展性:區域傳感器觸發防誤觸機制,獨立測量頭支持定制化嵌入,滿足在線檢測(inline)與實驗室研發需求。
日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供