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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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APO物鏡 探針臺顯微鏡全新的一體化設計，具有優異的光學成像質量，方便使用的正像光學系統，是理想的檢測半導體器件的工具，支持3種激光波長，可在半導體和液晶基板中使用激光切割和薄膜技術。可以廣泛應用于半導體、電子、冶金等行業的制造和研究領域。
長工作距離無應力平場復消色差APO物鏡，提供了優異的成像質量。
APO物鏡 探針臺顯微鏡名稱 | 倍數 | N.A. | W.D.(mm) | 解像度(um) |
長工作距離平場復消色差物鏡 | 2x | 0.055 | 34.0 | 5.0 |
5x | 0.140 | 34.0 | 2.0 | |
10x | 0.280 | 33.5 | 1.0 | |
20x | 0.420 | 20.0 | 0.7 | |
50x | 0.550 | 13.0 | 0.5 | |
100x(HNA) | 0.8 | 3.0 | 0.34 | |
可調焦長工作距離平場復消色差物鏡 | 2x | 0.055 | 34.0 | 5.0 |
5x | 0.140 | 34.0 | 2.0 | |
10x | 0.280 | 33.5 | 1.0 | |
20x | 0.420 | 20.0 | 0.7 | |
超長工作距離平場復消色差物鏡 | 50x | 0.420 | 22.5 | 0.7 |
100x | 0.550 | 13.0 | 0.5 | |
NIR超長工作距離平場復消色差物鏡 | 20x | 0.400 | 20.5 | 0.7 |
50x | 0.420 | 19.0 | 0.7 |
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