尼康新推出的N-SIM顯微鏡系統可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用*的光學科技與制造技術,尼康享譽的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡(N.A. 1.49),以此為基礎又結合了由UCSF(University of California,San Francisco舊金山加州大學)所*的SIM技術就形成了全新的N-SIM系統。N-SIM在實現超級分辨率的同時還能以0.6秒/幀的時間分辨率實現了業內zui高的超分辨率圖像獲取速度。
關鍵特性
幾近傳統顯微鏡雙倍的分辨率
結合UCSF*的“結構化照明顯微術(S tructured I llumination M icroscopy)"與尼康聲譽*的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡(N.A. 1.49)N-SIM幾乎實現了傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。