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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其它 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,綜合 |
日立 通用型原子力顯微鏡
日立 通用型原子力顯微鏡
AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。 1. 簡便的懸臂安裝 通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。 2. 不用調整激光光斑的自檢測方式 激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。
激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調節激光光斑。
懸臂的機械結構，能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置，從而輕松調整樣品的測量的位置。除此之外，更加尖銳的探針提高了分辨率。
通過流程圖形式的導航系統，任何人都可以輕松地進行高分辨表面測量。另外，通過設定樣品的軟硬度和凹凸系數等參數，能夠簡單確定測量條件。
主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。
通過激光檢測方式，能夠擴展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。
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