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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,能源 |
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產品簡介
詳細介紹
Park NX 20為FA 和研究實驗室提供精確的形貌測量解決方案 低噪聲Z 探測器可精確測量A F M 表面形貌 用真正的非接觸掃描方式節省成本。
帕克原子力顯微鏡是一種高分辨率顯微鏡，能夠在原子尺度下觀察和測量樣品表面的拓撲、形貌、電學和磁學信息，具有重要的應用價值。本文主要介紹帕克原子力顯微鏡的工作原理、應用以及未來發展前景。
一、工作原理
帕克原子力顯微鏡基于原子力探測技術，通過掃描探針與樣品表面的相互作用來獲取樣品表面的形貌、力學特性等信息。其探針底部有一個極細的觸針，通過控制探針與樣品之間的距離，實現在納米尺度下量級的力測量。
具體操作過程如下：
1、將掃描探針放置在樣品表面并控制其與樣品保持一定距離；
2、通過精確的探頭控制系統移動掃描探頭，實現對樣品表面的掃描，同時在控制探針與樣品表面的距離不變的情況下，記錄相關的力學參數；
3、將記錄的參數轉換為可視化的圖像，用以描述樣品表面的形貌、力學特性等信息。
二、應用領域
1、材料科學
帕克原子力顯微鏡可用于材料表面的質量檢測、表面物理感知（如拓撲、電學、磁學性質等），并為材料研究提供微觀量化數據，從而促進材料性能的改進。例如，可以用于材料表面氧化膜的檢測和測量，以及金屬薄膜和多層材料的研究。
2、生命科學
帕克原子力顯微鏡的高分辨率顯微成像技術為細胞和分子的研究提供了新的手段。可以用于生物材料表面的拓撲結構和化學成分分析，實現對不同結構的生物分子的定量分析和測量。例如，可以用于納米級別的生物膜形態學研究，以及單個分子的研究。
3、納米技術
帕克原子力顯微鏡為納米級別研究提供了有效手段，使得研究者能夠在原子尺度下探索樣品表面的特性和結構。它可以用于納米晶體的表觀形態分析、納米尺度下的表面拓撲和化學成分分析、納米機械性能研究和納米器件的制備等。
三、未來發展前景
帕克原子力顯微鏡技術仍在不斷發展，未來仍有很大的發展空間和應用前景。
1、提高分辨率
帕克原子力顯微鏡的分辨率仍有提高的空間，目前一些新型掃描探針的研究表明，未來該技術的分辨率有可能會達到亞原子尺度，從而更好地探測材料表面的特性和結構。
2、解決樣品難以掃描問題
當前，帕克原子力顯微鏡在掃描過程中，存在一些難以掃描的樣品，如軟組織和病毒等。未來可望通過新型探測器、更精密的加工工藝和更多樣化的掃描和檢測技術來解決這些問題。
3、應用多樣化
未來帕克原子力顯微鏡也將應用更加普遍，較早期的示范應用領域包括材料科學、生命科學、納米技術等，未來預計將有更多的領域來應用，包括新型能源材料研究、半導體器件結構研究、低溫量子物理研究等。
總之，帕克原子力顯微鏡作為一種當前的高分辨率顯微鏡技術，通過新型探測器和更加靈敏的掃描探針技術，將為人們納米級別的觀察和測量提供一個全新的研究手段，并將推動生命科學、材料學和納米技術等領域的發展。
Park NX 20 凝 聚 著 具 創 新 的 A F M 技 術
1 . 1 0 0 μ m x 1 0 0 μ m 掃 描 范 圍 的 X Y 平 板 掃 描 器
2.高 速 Z 軸 掃 描 器 ， 掃 描 范 圍 達 1 5 μ m
3.低 噪 聲 X Y Z 位 置 傳 感 器
4.集 塵 編 碼 器 的 X Y 自 動 樣 品 載 臺
5.. 自 動 多 點 樣 品 掃 描
6.操 作 方 便 的 樣 品 臺
7.用 于 拓 展 掃 描 模 式 易 插 拔 擴 展 槽
8.同 軸 高 功 率 光 學 集 成 L E D 照 明 和 C C D 系 統
9.掃 描 頭 滑 動 嵌 入 式 設 計
10.. 自 動 Z 軸 移 動 和 聚 焦 系 統
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