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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,能源 |
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產品簡介
詳細介紹
Park NX10原子力顯微鏡通過消除掃描器串擾進行準確的XY掃描
用于樣品和探針的獨立閉環XY和Z柔性
Park原子力顯微鏡（AFM）技術
Park原子力顯微鏡（AFM）技術是一種強大的工具，用于材料科學、物理和生物學的許多領域。它使研究人員能夠在納米級水平上觀察樣品的表面，提供有關表面形貌、粗糙度和機械財產的信息。
AFM的工作原理是用一個在表面上移動的微小探針掃描樣品，并產生地形圖像。探針通常由一個末端有尖銳的懸臂組成。該與樣品表面相互作用，由此產生的力由懸臂上的傳感器測量。
AFM的基本原理是基于懸臂與樣品表面相互作用時的變形。測量變形量，并根據收集的數據重建表面的形貌。
以原子分辨率提供樣品表面的高質量成像。它使研究人員能夠在各種環境中探索許多不同類型的樣本，包括真空、空氣和液體。這使得它非常適合許多應用，從材料科學和半導體研究到生物學和醫學研究。
還用于探索材料的機械和化學財產。這有助于研究人員了解不同材料的財產，并開發具有特定財產的新材料，如增強的強度、柔韌性或導電性。
功能使其成為探索納米級世界的一種有吸引力的工具。它使研究人員能夠以令人難以置信的精度和準確性研究各種材料，提供使用其他方法難以或不可能獲得的見解。
隨著探針設計、軟件和分析方法的新發展，正在不斷改進。這確保了它在許多研究領域仍然是一個重要的工具，為我們周圍的世界提供了新的見解。
總的來說，代表了探索納米級世界的強大工具。它的能力改變了我們對材料科學、物理學和生物學的理解，并將在未來幾十年繼續推動這些領域的研究。
Park NX10原子力顯微鏡掃描器整個掃描范圍內的線性度誤差小于1nm 精確的高度測量保留真實的樣品表面形貌信息,無需軟件處理.
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