TESCAN AMBER是一款超高分辨的FIB-SEM 系統，集成了 BrightBeam™ SEM 鏡筒、Orage™ Ga FIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統等多項創新設 計，在高分辨能力、原位應用擴展能力和分析擴展 能力方面達到了業內頂級水平。

TESCAN AMBER泰斯肯配置的新一代Essence ™操作軟件極 大簡化了用戶界面，能快速訪問各主要功能，并優 化了操作流程向導，易于學習，可根據工作需要定 制操作界面。

新穎的樣品室內3D空間位置和移動軌跡模擬 功能，可避免誤操作，造成碰撞。

新型Orage™鐮離子FIB鏡筒

創新的OrageTM Ga F舊鏡筒配有良好的離 子光學系統和顚設計的OptiGISTM氣體注入系統， 束流可達100 nA,具有超快速加工能力，新穎的 SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。

AMBER離子能魚低可達500 eV,擁有更優 秀的低壓樣品制備能力，可以快速制備無損超薄 TEM樣品。系統還可以配置多種擴展分析附件，并 實現與Raman、TOF-SIMS —體化。

•  SEM 分辨率：0.9nm@ 15kV

•  F舊分辨率：＜2.5nm@30kV

•  可選擇不同角度和不同能量收集電子信號， 獲得更好的表面靈敏度和對比度

•  靜電-電磁混合物鏡，無外泄磁場，更適合 對磁性樣品的觀察和分析

•  光闌孔徑達30個，由壓電陶瓷驅動器控制， 全面提升束流強度和精度

•  配置大型樣品室，有超過20個擴展接口， 為原位觀測和分析創造了良好的工作環境

1.乳膠珠，50V成像。

2.鋰電池負極上制備出的50 pm長度的截面。

3.未噴鍍的霉菌，800 V成像。

4.小鼠舌的表面形貌，2 kV, Cryo-SEM0。