Pico TEM A二合一超快透射電子顯微鏡解決方案在電子槍和聚光透鏡之間引入脈沖發生器，該脈沖發生器可通過皮秒級射頻電激發電子束并可保持原始掃描電鏡的光束質量，并在脈沖發生器關閉時對正常操作的影響最小（理想情況下沒有）。同時采用飛秒激光泵浦樣品聯動，該解決方案結合了脈沖發生器的百皮秒時間分辨率和透射電子顯微鏡的固有空間分辨率，可進行超高時間和空間分辨的成像、微區衍射以及能譜分析，實現對樣品的超快表征。

二合一超快TEM解決方案技術參數：

• 能量范圍：100 keV至300 keV

• 電子束頻閃率：15MHz~3GHz（電激發）

• 電子脈沖長度：100ps~period-100ps（電激發）

• 輻射安全

• 與 TEM 腔真空兼容

• 在電激發下保持 TEM 的原始固有空間分辨率。

二合一超快TEM解決方案應用：

•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡

–     CryoEM

–     LDA研究，生物大分子

–     超敏感分子的特性研究

–     蛋白質

–     納米工程結構分析

•      室溫Low-damage顯微鏡

–     提高有機材料表征時的總電子劑量

–     直流束流的晶體衰落值增加2倍（紅色箭頭）

•      電子全息技術

•      電子三維重構

•      時間分辨顯微鏡

–     泵浦探針頻閃顯微鏡（射頻泵浦，束流探頭）

–     在射頻激勵下確定MEM器件中的電場特性

1.    磁性和等離子設備的自旋電子學

2.    NEMS / MEMS高頻設備