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目錄:儀景通光學科技(上海)有限公司>>工業顯微鏡>> USPMⅢ奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ

奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ
  • 奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 型號 USPMⅢ
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市
屬性

產地類別:進口

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更新時間:2024-12-27 12:21:08瀏覽次數:9397評價

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產地類別 進口
鏡片反射率測定儀USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發出的換代產品,是的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實現高速、高精度的分光測定。

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

 

USPM-RU III反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背

面的反射光產生干涉。是適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。

消除背面反射光
采用特殊光學系統,消除背面反射光。                     
不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

  • 可測定微小區域的反射率
    用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑(?60 μm),可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

  • 測定時間短
    由于使用了Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測光機構,可以進行快速、再現性很高的測定。

  • 支持XY色度圖、L*a*b*測定
    可以依據分光測色法,通過分光反射率測定物體顏色。

  • 可以測定高強度鍍膜的膜厚
    采用干涉光分光法,可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚(單層膜)。

 

-END-

 

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