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北京亞科晨旭科技有限公司
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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>表征檢測>>三維光學輪廓(白光干涉)>> Bruker ContourX-200三維光學輪廓儀 用于表面紋理計量

三維光學輪廓儀 用于表面紋理計量

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號Bruker ContourX-200

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地北京市

更新時間:2024-09-25 15:06:33瀏覽次數:1084次

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產地類別 進口 產品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價格區間 100萬-200萬 應用領域 化工,能源,電子
ContourX-200光學輪廓儀將其特性,可自定義的選項以及易用性完美融合,可提供yi 流的快速,準確和可重復的非接觸式3D表面度量。

ContourX-200 3D光學輪廓儀

用于表面紋理計量的靈活臺式

 

ContourX-200光學輪廓儀將先進的特性,可自定義的選項以及易用性融合,可提供yi 的快速,準確和可重復的非接觸式3D表面度量。具有測量功能的小尺寸系統使用較大的FOV 5 MP數碼相機和新型電動XY位移臺,可提供毫不妥協的2D / 3D高分辨率測量功能。 ContourX-200還配有業界先進的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡化的功能,可訪問廣泛的預編程濾鏡和分析庫,用于精密加工的表面,厚膜,半導體,眼科,醫療設備,MEMS和摩擦學應用。 ContourX-200具有Z軸分辨率和精度,在不限制傳統共聚焦顯微鏡和競爭性標準光學輪廓儀的情況下,提供了布魯克專有的白光干涉儀(WLI)技術的所有業界*的優勢。

 

ContourX-200 3D光學輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協的yi 計量

 

基于ContourX-200光學輪廓儀超過四十年的專有WLI創新,該輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲,高速,高精度和高精度結果。通過使用多個目標和集成的特征識別功能,可以在各種視野內以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征,從而為非常不同的行業中的質量控制和過程監控應用提供了與比例無關的結果。 ContourX-200在從0.05%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

 

輪廓X-200

WLI為所有目標提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動載物臺。

廣泛的應用分析能力

 

利用強大的VisionXpressVision64用戶界面,ContourX-200提供了數千種定制分析,以提高實驗室和工廠車間的生產率。系統新相機提供的更大FOV和新型電動XY工作臺提供的靈活性,為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結合,可提供對ding 光學性能的簡化訪問,*超越了同類計量功能。

 

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