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參考價(jià)	面議

數(shù)字源表/皮安表/納伏表

精密原表SMU

鼎陽(yáng)高精密源表

高壓表

LCR測(cè)試儀

納伏表校準(zhǔn)裝置

艾德克斯數(shù)字源表

固緯數(shù)字源表

產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,交通,汽車(chē),電氣

鼎陽(yáng)SMM3311X精密源表具備6½顯示位數(shù)，高達(dá)±210V直流電壓、±3.03A直流電流、±10.5A脈沖電流輸出，最小10fA/100nV編程及測(cè)量分辨率，最大采集速率100,000 points/s。支持四象限操作，能夠同時(shí)采集和測(cè)量信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)DUT的源-測(cè)量循環(huán)。

詳細(xì)介紹

鼎陽(yáng)SMM3311X精密源表

此系列產(chǎn)品具備6?顯示位數(shù)，高達(dá)±210V直流電壓、±3.03A直流電流、±10.5A脈沖電流輸出，最小10fA/100nV編程及測(cè)量分辨率，最大采集速率100,000 points/s。支持四象限操作，能夠同時(shí)采集和測(cè)量信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)DUT的源-測(cè)量循環(huán)。既可作為恒壓源、恒流源、電壓表、電流表和歐姆表，還可以作為脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器，是測(cè)試半導(dǎo)體和其他非線(xiàn)性設(shè)備和材料的理想選擇。

高精度脈沖模擬

脈沖模式下，SMM3000X系列支持±10.5A的脈沖電流輸出，最小脈寬可達(dá)50μs，能夠精準(zhǔn)模擬功率器件的瞬態(tài)工況，如GaN（氮化鎵）、SiC（碳化硅）器件的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試等，為功率半導(dǎo)體器件的研發(fā)和測(cè)試提供了強(qiáng)有力的支持。

線(xiàn)性/對(duì)數(shù)掃描

SMM3000X系列支持線(xiàn)性/對(duì)數(shù)/脈沖掃描，可根據(jù)用戶(hù)預(yù)設(shè)的起始點(diǎn)至終止點(diǎn)，以固定的步進(jìn)值逐點(diǎn)輸出電壓或電流，同時(shí)自動(dòng)測(cè)量并記錄每個(gè)點(diǎn)的值。用戶(hù)可以快速地驗(yàn)證二極管、晶體管等半導(dǎo)體器件在不同工作點(diǎn)下的特性，獲取其導(dǎo)通特性曲線(xiàn)，對(duì)器件進(jìn)行性能分析。

靈活自定義序列

列表模式支持用戶(hù)自定義輸出序列，最小間隔可達(dá)10μs，參數(shù)變化可以是線(xiàn)性的，也可以是非線(xiàn)性的，甚至是任意值或自定義順序。SMM3000X按照列表中設(shè)定的值依次輸出電壓或電流，同時(shí)測(cè)量并記錄數(shù)據(jù)，適用于不規(guī)則的電壓/電流變化測(cè)試或多段測(cè)試等。

數(shù)據(jù)可視化分析

SMM3000X系列提供了Graph、Roll和Measure結(jié)果視圖等多種視圖模式。用戶(hù)可以通過(guò)Graph視圖對(duì)數(shù)學(xué)運(yùn)算結(jié)果進(jìn)行實(shí)時(shí)曲線(xiàn)繪制，通過(guò)Roll視圖對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的時(shí)域波形進(jìn)行顯示，通過(guò)Measure視圖獲得跡線(xiàn)統(tǒng)計(jì)結(jié)果。多種視圖模式提供了多維度的參數(shù)分析，用戶(hù)可更直觀(guān)地理解和分析測(cè)試數(shù)據(jù)。

高效程控

SMM3000X系列基于先進(jìn)的SCPI命令集，支持通過(guò)USB、LAN接口與計(jì)算機(jī)通信，實(shí)現(xiàn)高效便捷的遠(yuǎn)程控制。用戶(hù)既可通過(guò)網(wǎng)頁(yè)輕松操控，也可結(jié)合SCPI命令進(jìn)行深度自定義編程，滿(mǎn)足多樣化測(cè)試需求。此外，用戶(hù)還可利用Socket通信技術(shù)，通過(guò)TCP/IP協(xié)議與SMM3000X進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)交互，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程測(cè)試與控制。

鼎陽(yáng)SMM3311X精密源表的推出，不僅滿(mǎn)足了第三代半導(dǎo)體、先進(jìn)光電器件等前沿領(lǐng)域的精密測(cè)試需求，還可大幅縮短了新能源電池、高密度集成電路等產(chǎn)品的研發(fā)周期，提升測(cè)試效率和測(cè)試精度，為產(chǎn)品的研發(fā)和創(chuàng)新提供強(qiáng)有力的支持。