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當前位置：> 供求商機> HAD0-70601-能薄膜性測試儀 薄膜性測試儀
| 能薄膜性測試儀型號:HAD0-70601 | |
| 儀器由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀兩分組成。具有測量度，靈敏度，穩定性好，測量范圍寬，結構緊湊，使用方便等點。儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，等院校對半導體材料的電阻性能的測試。 四探針測試儀由主機，測試架等分組成。可以測量片狀，塊狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻），能材料暗電導和光電導及溫度的變化的性，還可以對金屬導體的低，中值電阻行測量。測試探頭采用寶石導向軸套和耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確，游移率小，壽命長。 非晶硅薄膜電導率測量儀由樣品室，溫控系統，真空系統，阻測量系統等分組成。 1. 測量范圍：電阻測量范圍：1×106 1×1017Ω； 電阻率：0.001～200Ω cm; 電導率：0.005～1000s/cm; 2. 可測晶片直徑：200mm×200mm; 3. 探針：碳化鎢或速鋼；探針間距：1± 0.01mm; 4. 針間緣電阻： ≥ 1000 MΩ； 機械游移率：≤0.3%； 5. 本底真空度： ≤10Pa,氣壓可控范圍：10～400Pa; 襯底加熱溫度：室溫度～200℃ | 能薄膜性測試儀 |
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