儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
四探針測試儀 測試儀 型號：GSZ-RTS-3
手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
| 術 標 ： |
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測量范圍 | 電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；
方塊電阻：0.1～19999Ω/□；
| 恒源 | 電量程分為100μA、1mA兩檔，兩檔電連續(xù)可調 | 數字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ； 度：±0.1%；
顯示：以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；性、量程自動顯示； | 四探針探頭基本標 | 間距：1±0.01mm； 針間緣電阻：≥1000MΩ； 機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓（總力）； | 四探針探頭應用參數 | （見探頭附帶的合格證） | 模擬電阻測量相對誤差
| 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 | 整機測量zui大相對誤差 | （用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±5% | 整機測量標準不確定度 | ≤5% | 外型尺寸 | 185mm（長）*90mm（寬）*30mm（） | 重量 | 350g | 電源 | 鋰電池，次充電可連續(xù)使用100小時； | 標準使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無頻干擾； 無強光直射； |
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2.
 | 產品名稱：數字熔點儀 熔點儀
產品型號：HA-WRS-2
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數字熔點儀 熔點儀 型號：HA-WRS-2
點：測定晶體物質的熔點以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機化合物熔點之測定。光電檢測，數字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。有RS232接口。
主要參數：
熔點測定范圍：室溫～300℃
溫度顯示zui小示值：0.1℃
線性升溫速率： 0.2℃/min， 0.5℃/min， 1℃/min， 1.5℃/m2℃/min， 3℃/min， 4℃/min， 5℃/min八檔
測量準確率：< 200℃： ±0.5℃， ≥200℃： ±0.8℃
儀器重量：11kg
儀器尺寸：398×280×170(mm)
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