半導體導電型號鑒別儀 硅單晶材料PN測量儀
型號:SN/STZ-8
主要技術(shù)指標:
1. 測量范圍:硅單晶材料電阻率10-4~103Ω•cm
溫差法:10-4~10Ω•cm
整流法:10~103Ω•cm,并對<0.1Ω•cm的材料具有聲光報警功能。
2. 可測量材料:半導體硅棒和硅片,及硅碎顆粒。
可測半導體材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。
3. 顯示方式:P、N 燈顯示。
4. 測試探頭:手持式 探針間距3 mm 探針Φ1mm 高速鋼
5. 電源:220V 50HZ 20W
6. 儀器尺寸:100×260×260
相關(guān)產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。