正置顯微鏡是zui常見的光學顯微鏡之一，它的結構簡單,操作更方便,容易找到關心區域,而且光路較短,成像會更好,但由于試樣觀察面要盡量平行與臺面,所以制樣通常要兩面磨平行，即正地面需是是平的。正置顯微鏡的被檢物體是放在載物臺上，物鏡下方。光源從下方燈室中的燈泡發出，進入聚光鏡，zui后通過被檢物體進入物鏡。也成為正立顯微鏡、常規顯微鏡。

金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。 *，合金的成分、熱處理工藝、冷熱加工工藝直接影響金屬材料的內部組織、結構的變化，從而使機件的機械性能發生變化。因此用金相顯微鏡來觀察檢驗分析金屬內部的組織結構是工業生產中的一種重要手段 。

在使用相差顯微鏡時，應注意細心謹慎。使用相差顯微鏡過程中常出現幾個問題：

（1）相位倒轉 當n’<n或n’>n時得到象的明暗反差正好相反，稱為相位倒轉。當相位差δ=0時是無法識別的，隨著δ的增大反差變大，當δ繼續增大到某一值后會出現相位倒轉。用90%高吸光值（高反差）物鏡時，這個轉變值約為0.55λ，用70%標準吸光值的物鏡時約為0.33λ。較高吸光值的物鏡應該用于分辨較小的光程差。

（2）暈輪和漸暗效應 在相差顯微鏡成象過程中，某一結構由于相位的延遲而變暗時，并不是光的損失，而是光在象平面上重新分配的結果。因此在黑暗區域明顯消失的光會在較暗物體的周圍出現一個明亮的暈輪。這是相差顯微鏡的缺點，它妨礙了精細結構的觀察，當環狀光闌很窄時暈輪現象更為嚴重。相差顯微鏡的另一個現象是漸暗效應，指相差觀察相位延遲相同的較大區域時，該區域邊緣會出現反差下降。

（3）樣品厚度的影響 當進行相差觀察時，樣品的厚度應該為5μm或者更薄，當采用較厚的樣品時，樣品的上層是很清楚的，深層則會模糊不清并且會產生相位移干擾及光的散射干擾。

（4）蓋玻片和載玻片的影響樣品一定要蓋上蓋上蓋玻片，否則環狀光闌的亮環和相板的暗環很難重合。相差觀察對載玻片和蓋玻片的玻璃質量也有較高的要求，當有劃痕，厚薄不均或凹凸不平時會產生亮環歪斜及相位干擾。另外玻片過厚或過薄時會使環狀光闌亮環變大或變小。

使用相差顯微鏡應該注意以上幾個問題，然后小心解決。