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COB BI測試老化試驗箱的應用

來源:安徽奧科試驗設備有限公司   2025年02月28日 14:46  

COB BI測試老化試驗箱,專為COB(Chip on Board,板上芯片)封裝及BI(Backlight Inverter,背光逆變器)等電子元件的高溫老化測試設計,遵循ISO 9001質量管理體系及GB/T 2423、IEC 60068等環(huán)境試驗標準。


設備特點:

設備通過模擬長期高溫工況,驗證元件熱穩(wěn)定性、材料耐受性及電氣性能可靠性,適用于研發(fā)驗證、量產篩選及質量抽檢全流程。

精準調控:溫度波動度≤±0.5℃,偏差≤±2.0℃,均勻度≤3℃(滿足GB/T 10592-2008等標準);
快速響應:支持≥10℃/min平均升溫速率(100kg負載),溫度過沖<2.0℃;

智能算法:PID自適應調節(jié),確保長期穩(wěn)定性。

人機交互:顯示屏+PLC控制,支持 RS-485 通訊,可與上位機連接;
數據追溯:內置存儲芯片記錄數據,支持U盤導出及Modbus RTU協(xié)議遠程監(jiān)控;

故障自檢:10+項安全報警(含加熱器斷路、風機過載、傳感器異常等)。


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