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壓電測試案列二(環形壓電疊堆,彎曲D33測試)

來源:北京精科智創科技發展有限公司   2025年02月11日 09:31  

ZJ-4 型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀),薄膜PVDF壓電系數測試儀
關鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15,D15圓管夾具,


新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)

 

一、產品介紹:

ZJ-4型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器,它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料,PVDF薄膜壓樣品。ZJ-4擴展了D31塊體,D31薄膜拉伸夾具,D15條狀夾具,D15圓管夾具,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產、應用與研究部門的儀器。

二、參考標準:
GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測試方法 縱向壓電應變常數d33的靜態測試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測試方法 圓片厚度伸縮振動模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測試方法 柱體縱向長度伸縮振動模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測試方法 強場介電性能的測試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測試方法 熱釋電系數的測試

三、產品主要功能:

測量壓電材料的d33常數

測量具有大壓電常數的壓電陶瓷

測量小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料 

測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數

薄膜PVDF壓電系數D33測試

D31塊體,D31薄膜拉伸夾具,D15條狀夾具,D15圓管夾具等八套夾具

四、主要技術指標

d33測量范圍:

 ×1擋:  20 至6000pC/N 擴展10000PC/N

×0.1擋: 2 至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用
誤差:×1擋:±2%±1個數字,當d33在100到4000pC/N;

計量標定標準樣尺寸:18mm*0.8mm,老化時間:2-3年(評判壓電測試儀準確性能的重要依據之一)

提供壓電薄膜標準片:20*20MM

電壓保護:放電保護功能  

D31塊體,D31薄膜拉伸夾具,D15條狀夾具,D15圓管夾具D31塊體夾具,薄膜拉伸夾具(新增功能),共面電極功能(新增)
±5%±1個數字,當d33在10到200pC/N;
×0.1擋:±2%±1個數字,(當d33在10到200pC/N)
±5%±1個數字,當d33在10到20pC/N。
分辨率: ×1擋:1 pC/N;    ×0.1擋:0.1 pC/N。
尺寸:施力裝置:Φ110×140mm;儀器本體:240×200×80mm。
重量:施力裝置:約4公斤;   
儀器本體:2公斤。
電源:220伏,50赫,20瓦。


 經典案列:


1、環形壓電陶瓷片/疊堆測試 D33測試儀  實際應用一:

新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)


新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)

新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)


2、環形壓電陶瓷彎曲片D33測試  實際應用二:


新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)            

新推八套夾具精密ZJ-4型D33測試儀(共面)


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