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SEM（掃描電鏡）是一種利用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像的技術，其工作原理類似于閉路電視系統。電子束由三極電子槍發射，經過加速電壓和多個電子透鏡聚焦后，按順序逐行掃描樣品表面，激發樣品產生二次電子、背散射電子等物理信號。這些信號被收集器接收并放大后，送到顯像管上形成與樣品表面特征相對應的畫面。
在操作SEM時，首先需要確保設備及其附屬設備（如真空系統、冷卻系統）處于正常工作狀態，并進行預熱。然后，將準備好的樣品放置在樣品臺上，關閉真空腔并啟動真空泵進行抽真空。接下來，根據樣品和觀測需求選擇適當的電子束加速電壓和電流，設置樣品工作距離，并進行低倍率觀察、調整焦距、放大倍率等操作。最后，調整對比度和亮度以獲得最佳成像效果，并選擇適當的掃描速度捕捉圖像。
樣品制備是SEM操作的關鍵步驟之一。首先，需要根據實驗目的和樣品特性選擇合適的取樣方法，并確保樣品具有代表性、表面平整、干凈、無污染。然后，進行清潔、干燥、固定和導電處理等步驟。對于非導電樣品，需要進行導電處理以消除電荷積累。在制備過程中，應避免污染和損傷，確保樣品表面干凈和結構完整。
總之，SEM掃描電鏡作為一種高性能成像工具，在微觀世界的探索中具有廣泛的應用。通過了解其原理、掌握正確的操作方法和樣品制備技巧，可以獲得高質量的成像效果和數據質量。以上信息僅供參考，如需了解更多關于SEM掃描電鏡的詳細信息，建議查閱相關文獻或咨詢專業人士。
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