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正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了大的方便，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。另外外置攝相系統可以方便的連接視屏和計算機進行實時和靜動態的圖像觀察、保存和編輯、打印結合各種軟件能進行更專業的金相、測量、互動教學領域的需要。
正置式和倒置式的區別簡單的說就是，正置的樣品放在下面，倒置的樣品放在上面。正置的物鏡向下，倒置的物鏡向上。
倒置金相顯微鏡 ，由于試樣觀察面向下與工作臺表面重合，觀察物鏡位于工作臺的下面，向上觀察，這種觀察形式不受試樣高度的限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整，因此工廠實驗室、科研機構院校教學普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大，重心較低，安全平穩可靠，目鏡與支承面呈45℃傾斜，觀察舒適。
正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因為符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了大的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
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