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一、原理：
(1)通過測量被測光源可見光譜區光譜功率分布進而計算得到照度和色度參數的測量儀器，此類儀器廣泛應用于各類現場照明測量領域，也可用于光源產品的研發、生產線質量監控等環節。
(2)人射光經過分光系統使得不同波長的光平鋪成像到陣列式光電探測器上，從而陣列探測器的像素與波長形成對應關系，通過信號讀取電路即可獲取到有效波段內的光譜強度信息，陣列式光電探測器主要類型包括：電荷藕合元件(CCD)、互補性氧化金屬半導體器件(CMOS)、光電二極管陣列器件(PDA)等。
(3)在分光系統中增加出射狹縫，采用非陣列的光電探測器結合光譜掃描獲取到光譜功率分布信息。信號讀出電路將原始的光譜功率分布信息發送到微處理器后經過光譜修正、照度及色度計算等過程，最終顯示照度、色度及光譜曲線等測量結果。
二、特點：入射光學系統可以包含余弦修正器、光纖、積分球、必要的鏡頭等部件。分光系統一般基于光柵器件進行分光，光柵又包括反射光柵和透射光柵。
三、應用領域：
波長范圍廣可測試各類光源、SD卡保存多種格式Excle數據分析；
適合不同場合現場測試、一鍵毫秒級的開關機使用更加便捷；
工程技術人員、工程銷售人員、貿易公司、技術工程師及其它。
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