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IRA超短脈沖測量儀（擴展掃描范圍）是專門為測量超快放大器和振蕩器產生的超快輻射脈沖寬度和近對比度而開發的。還有一種特殊的IRA系統模型，適用于中紅外激光源。IRA包括光學機械組件和電子設備與USB接口。系統易于操作，并包括一套完整的數據收集和分析用戶友好的軟件工具。逼近Gaussian和Sech2線性的也可以。光學機械組件由參考脈沖的額外延遲光學箱和機械套件組成。
1) 移除XPW晶體，使用入射光闌和廠家提供的輔助小孔進行光路的對準。驗證是否對準的方法是看光譜儀上的強度是否*。注意：廠家提供的小孔背面貼有四分之一波片，因此需要旋轉波片使得初始強度合適
2) 移除小孔，此時由于偏振元件的正交性，光譜儀上應該沒有信號，或者非常之微弱。如果有較強的信號，說明偏振片的方向有所旋轉，需要校正一下。如果發現有微弱的信號，并且有光譜干涉的現象，說明雙折射片的角度不正確，需要旋轉一下，祛除干涉條紋。
3) 放入XPW晶體，此時光譜儀上應該有一個相對光滑的光譜出現。當然，這是建立在脈沖比較優化的前提下。如果信號較弱，需要調節一下激光系統中的脈沖壓縮器直到獲得*的光譜強度信號和最寬的光譜寬度。
4) 最后一步是利用雙折射片產生待測信號，適當旋轉雙折射片的角度，產生一個調制深度適中（筆者的經驗大約在30%）的干涉圖樣。
5) 此時，Wizzler界面上應該會給出一個詳細的脈沖寬度數值和相位信息。
1) 移除XPW晶體，使用入射光闌和廠家提供的輔助小孔進行光路的對準。驗證是否對準的方法是看光譜儀上的強度是否*。注意：廠家提供的小孔背面貼有四分之一波片，因此需要旋轉波片使得初始強度合適
2) 移除小孔，此時由于偏振元件的正交性，光譜儀上應該沒有信號，或者非常之微弱。如果有較強的信號，說明偏振片的方向有所旋轉，需要校正一下。如果發現有微弱的信號，并且有光譜干涉的現象，說明雙折射片的角度不正確，需要旋轉一下，祛除干涉條紋。
3) 放入XPW晶體，此時光譜儀上應該有一個相對光滑的光譜出現。當然，這是建立在脈沖比較優化的前提下。如果信號較弱，需要調節一下激光系統中的脈沖壓縮器直到獲得*的光譜強度信號和最寬的光譜寬度。
4) 最后一步是利用雙折射片產生待測信號，適當旋轉雙折射片的角度，產生一個調制深度適中（筆者的經驗大約在30%）的干涉圖樣。
5) 此時，Wizzler界面上應該會給出一個詳細的脈沖寬度數值和相位信息。
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