因為粉體形態各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用JX-2000B型圖像分析儀，能更準確直觀粒度形貌，控制分析好產品質量。該系統由光學顯微鏡、USB攝像頭、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。

指標與性能  

1、測試范圍：0.5～3000μm

2、zui大放大倍數：4000倍

3、zui大分辨率：0.1μm

4、數字攝像頭(CCD)：300或500萬像素

5、顯微鏡：配置透反射顯微鏡（帶有金相功能）

6、標尺刻度：10μm

7、分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

8、接口方式： USB方式

適用領域  

1、 粉體材料：金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸鋇、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉。

2、固體材料：陶瓷片表面晶體結構，金屬、合金表面晶形結構，其它不透光物體表面晶體結構。

3、 用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

儀器特點  

軟件功能強大，可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等軟件。采用全平場消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學放大倍數1600倍，圖像打印zui大倍數4000倍，還可根據需要輸出多種格式的測試報告。

測試報告：