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產品簡介
BI-DCP是數字式控制的高分辨率、高準確度的顆粒粒度分析儀，它完善的硬件設計集中體現了90年代離心/沉降原理粒度測試儀器的全部技術精華。
詳細介紹
圓盤式離心/沉降粒度儀由于BI-XDC采用X射線為光源，從而降低了系統對數學工具的依賴，從根本上保證了測量結果的準確性。
圓盤式離心/沉降粒度儀的主要特點
1.輔層進樣與均相進樣兩種方式
2.重力沉降與離心沉降兩種模式
3.具有較高的分辨率
4.分段檢測功能實用方便
5.應用廣泛
的技術參數
1.粒度范圍：10nm-45um 或 10nm-100um
2.電極轉速：500-10000rpm 或 500-15000rpm
3.精度：2%； 重復性：1%
4.BI-DCP擁有強大的數據庫，存儲多種典型物料的消光曲線。
5.BI-XDC以X射線為檢測光源，無需消光校正