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水稻育種研究中，水稻表型參數至關重要，水稻表型檢測儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數在水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。

水稻表型檢測系統技術參數

測量范圍和誤差：

1、水稻畝穗數測量誤差： ≤±5%

2、稻穗形態測量范圍：   5~20cm

3、水稻夾角測量范圍：   0-180°

4、作物莖粗：        0-5.2cm

誤差

穗長誤差：      ±2%

夾角測量誤差：  +5%

作物莖粗測量誤差：   ±1mm

千粒重測量誤差：     ±2%

株高測量范圍：       0.1-1.5m

水稻莖稈測量誤差：.....±5%