久久99精品视频一区,把老师下面日出水视频,国产成人欧美日韩在线电影,外国特级AAAA免费

玉崎科學儀器（深圳）有限公司
中級會員 | 第2年

19270095986

當前位置：玉崎科學儀器（深圳）有限公司>>Rigaku理學>>半導體測量設(shè)備>> XTRAIA CD-3010G玉崎科學半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線

玉崎科學半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號XTRAIA CD-3010G

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地深圳市

更新時間：2024-09-29 10:00:37瀏覽次數(shù)：335次

聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)
價格區(qū)間 面議 應用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,綜合
玉崎科學XTRAIA CD-3010G半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線
玉崎科學半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線

斜入射X射線CD測量工具

玉崎科學半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線

玉崎科學半導體設(shè)備理學Rigaku高精度射線


可以使用 GISAXS CD 測量和 X 射線反射率 (XRR) 測量來測量薄膜厚度、密度和粗糙度。

兼容最大 300mm 晶圓

XTRAIA CD-3010G 規(guī)格

方法掠入射小角 X 射線散射測量 (GISAXS)
X 射線反射測量 (XRR)
目的淺重復結(jié)構(gòu)的臨界尺寸測量
X射線源封裝管，Cu Ka (8.04 KeV)
X射線光學系統(tǒng)多層鏡光學系統(tǒng)
X射線探測器二維探測器
主要部件圖案化晶圓的測量
周期性精細 3D 形狀
線和空間、點或孔結(jié)構(gòu)
淺孔/柱、抗蝕劑、掩模圖案、存儲器件的單元區(qū)域、FinFET/GAA
特征模式識別和全晶圓映射
選項GEM300 軟件，E84/OHT 支持
機身尺寸1865(W) × 3700(D) × 2115(H) mm, 2965 kg（含裝載口） 
測量目標GISAXS：節(jié)距、CD、高度、SWA（側(cè)壁角）、RT（圓頂）、RB（圓底）、線寬分布、節(jié)距分布、高度分布
XRR：膜厚、密度和粗糙度差

































特別提示：商品詳情頁中（含主圖）以文字或者圖片形式標注的搶購價等價格可能是在特定活動時段下的價格，商品的具體價格以訂單結(jié)算頁價格為準或者是您與商家聯(lián)系后協(xié)商達成的實際成交價格為準；如您發(fā)現(xiàn)活動商品價格或活動信息有異常，建議購買前先咨詢商家。

會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復您~
撥打電話
在線留言