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目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統>>顯微缺陷膜厚>> 紫外分光輻射照度測量系統 New

紫外分光輻射照度測量系統 New
  • 紫外分光輻射照度測量系統 New
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 上海市
屬性

>

更新時間:2024-12-27 12:26:27瀏覽次數:210評價

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●該檢測器是一種高性能的分光光度計,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。

●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍

●帶軟件的樣品照明電源,測量儀器批量控制

●LIV測量,脈沖點測量,樣品溫控測量

●設備校準的標準燈由我們自己的部門提供,并由 JCSS 校準公司注冊。

產品信息

評價項目

照度、輻照度

光譜數據(光譜輻照度)

其他測量項目

三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、

u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯色指數 Ra、R1 至 R15峰值波長、半寬光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

規格

紫外分光輻射照度測量系統 New

* 1:參考值。照度頭是
根據使用高斜入射特性類型的 220-850 nm 檢測器的A 光源測量結果估算的。根據檢測器和照度頭組合的變化
* 2:出廠時用于設備校準的標準燈。非設備附件
* 3:JCSS 可溯源
* 4:可選附件,請參考總光通量測量系統的規格頁面。

設備配置

基本配置

紫外分光輻射照度測量系統 New

探測器、光纖和照度頭的配置,包括數據處理單元。
用于進行基本測量的最小配置的組合。

 

直流電源控制選項

紫外分光輻射照度測量系統 New

在基本配置中添加直流電源的配置。電源也由測量軟件共同控制。
測量樣品時可以進行 LIV 測量和脈沖測量。
* 請參閱可控直流電源的規格。

測量示例

LED測量

紫外分光輻射照度測量系統 New
這是用筒燈LED測量是否有可見光以外的紫外光的例子。
由波形可知,不包含400nm以下的紫外線。

 

陽光測量

紫外分光輻射照度測量系統 New
這是在戶外測量陽光的示例。
我們評估可見光、UV-A、UV-B 和 UV-C 的比率。
輸出在短波長范圍內急劇下降,在 450 nm 處達到藍色峰值。
可以看出,UV-A光的輸出量減少了,但含有超過一定的值。
UV-B輸出很小,但可以說沒有UV-C輸出。


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