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| 產地類別 | 國產 |
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產品簡介
詳細介紹
產品介紹：
TDJ2/TDJ2E光學經緯儀是一種精密的光學經緯儀。它可以精密測定水平角度、垂直角度及概略的距離。垂直角度及水平角度用光學測微器可直讀到1″或1cc。產品性能、技術參數*符合J2級光學經緯儀GB/T3161-2003國標規定。 本儀器在大地控制測量、精密工程測量及國防建設上占有很重要地位。
產品特點：
1、 X型長擺式豎盤指標自動補償器，具有良好的抗高頻振動性能
2、 彩色讀數視場，使讀數方便、舒適清晰
3、垂直角度及水平角度用光學測微器可直讀到1′或1cc
4、望遠鏡采用正、倒像兩種，可配通用基座
5、*設計的空氣阻尼結構，穩定可靠
TDJ2/TDJ2E光學經緯儀測量范圍：
測量范圍 | 0o- 360o | ||
一測回水平方向標準偏差 | 2″ | ||
一測回垂直角測量標準偏差 | 6″ | ||
望遠鏡 | 成像 | 正像 | 倒像 |
放大倍數 | 30x | 28X | |
物鏡有效口徑 | 40mm | ||
視場角 | 1°30′ | ||
蕞短視距 | 2m | ||
視距乘常數 | 100 | ||
視距加常數 | 0 | ||
鏡筒長 | 172mm | ||
水準器 | 長水準器 | 20″/2mm | |
圓水準器 | 8′/2mm | ||
度盤和光學測微器 | 度盤刻劃形式 | 全圓：360°或者400g | |
SHUI平度盤分劃直徑 | 90mm | ||
水平度盤分劃值 | 20C | ||
豎直度盤分劃直徑 | 70mm | ||
豎直度盤分劃值 | 20C | ||
光學測微器分劃值 | 1″ | ||
讀數顯微鏡 | 水平系統放大率 | 45.80X | |
垂直系統放大率 | 58.80X | ||
豎盤指標自動補償器 | 工作范圍 | ±2′ | |
安置誤差 | ±0.3″ | ||
光學對點器 | 放大倍數 | 3X | |
視場角 | 5o | ||
調焦范圍 | 0.5m～∝ | ||
儀器規格 | 儀器凈重 | 6.0kg | |
儀器橫軸中心高 | 221mm | ||
儀器體積 | 310mm×160mm×148mm | ||
儀器照準差C的檢驗與校正
檢驗
① 安置儀器并整平；
② 瞄準平行光管分劃板十字絲或遠處一明顯目標，先后進行正鏡和倒鏡觀測；
③ 取得正鏡水平角讀數HI和倒鏡水平角讀數HR，計算照準差：
C =（ HI – HR ± 180°）/2
如果 C ≤ 8"，則不必校正；如果 C > 8"，則可以按以下步驟進行校正。
校正
① 在倒鏡位置旋轉水平微動手輪使倒鏡讀數為HR + C；
② 用十字螺絲刀取下望遠鏡的調焦護罩，調整左右兩個調整螺釘，使望遠鏡分劃板與平行光管分劃板十字絲或遠處一明顯目標重合；
③ 重復檢驗和校正直至合格。
8.6豎直度盤指標差I的檢驗與校正
此操作在完成望遠鏡分劃板豎絲和儀器照準差C校正后進行
檢驗
① 安置儀器并整平；
② 用望遠鏡分別在正鏡和倒鏡位置瞄準垂直角為±10°左右的平行光管分劃板十字絲或遠處一明顯目標，得到正鏡垂直角讀數VI和倒鏡垂直角讀數VR；
③ 計算，指標差I=(VI+VR-360°)/2；
④ 若I≤10"，則，不必校正，若I>10"，則須校正。