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當前位置：廣州貝拓科學技術有限公司>>X射線衍射儀（XRD）>>BRAGG系列X射線衍射儀>> BRAGG110臺式X射線衍射儀
貝拓科學專業研發設計生產的BRAGG臺式X射線衍射儀采用先進的X射線衍射技術，能夠快速、精確地進行晶體結構分析、相態識別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應對多種樣品類型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶友好的軟件界面，方便用戶進行數據處理和分析。這款儀器適用于多個領域，包括材料科學、地球科學、化學等，為研究人員和工程師提供了強大的分析工具。
儀器特點：
● 光子計數X射線探測器
面陣型光子計數半導體探測器
高靈敏，可實現單光子計數
動態范圍大
雙閾值
抗強輻射長時照射，長壽命
● 固定測角儀系統
同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時收集γ角度信息
● 大角度弧形探測器
同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時收集γ角度信息
探測器至樣品距離:150 mm
多片探測器全角度無縫覆蓋
● 支持多種數據采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
功能應用：
● 物相鑒定
● 定量分析
●結晶度
●晶胞參數
●晶粒尺寸
●晶體結構
●Rietveld 精修
●相變
技術參數：
型號 | BRAGG臺式X射線衍射儀 | |
| X射線管 | 種類 | Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管 |
焦點 | 0.4x10/1x10mm點/線可互換 | |
| X-射線發生器 | 最大輸出 | 600W |
管電壓 | 15~40kV，1kV/Step | |
管電流 | 5~15mA，1mA/Step | |
管電壓、管電流穩定度 | ≤0.01%(電源電壓浮動10%) | |
| 測角儀 | 測角儀結構 | θ/2θ |
衍射光路幾何 | Bragg-Brentano/Debye-Scherrer可切換 | |
測角儀半徑 | 150mm | |
掃描/照相角度范圍 | -10~80°(θ)-3~150°(2θ) | |
工作方式 | 分段/固定照相 | |
θ軸連續掃描速度 | 0.125~30°/min | |
θ軸最高轉速 | 10°/s | |
2θ角重復精度 | ≤±0.001° | |
測量準確度 | ±0.02 | |
| 檢測器 | 類型 | 混合像素光子計數半導體探測器 |
像素尺寸 | 70x70 μm2 | |
單片面積 | 20.1x20.1mm2 | |
噪聲 | <1cps | |
能量分辨率 | 1000eV | |
數量 | 11/21片 | |
最大線性計數 | 3x106cps/pixel | |
| 機柜 | 機柜尺寸(mm) | 770(長)x520(寬)x800(高) |
整機重量(kg) | 120 | |
輻射劑量 | ≤0.2uSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 門聯鎖保護/功率保護/過熱保護 | |
濾波器 | Ni濾片 | 對應Cu靶 |
| 綜合指標 | 整機綜合穩定度 | ≤0.2% |
