非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1
測試原理
1、 原理
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。

非接觸厚度電阻率測試儀 型號：JXNRT1 
一、測試原理 
1、 原理 
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。 
非接觸厚度電阻率測試儀 2、厚度測試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復性好，測試數值穩定，技術成熟等優點，廣泛用于各種材料厚度的測試。 
  
二、范圍 
本設備為非接觸無損測量設備，測試過程中對硅片表面以及內部不會造成損傷。特別于代替四探針法用于半導體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產廠商、半導體器件生產廠商、光伏企業、導電薄膜生產企業。 
三、儀器構成 
1、測試主機：1 臺 
2、電源線：1 根 
3、串口數據線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個 

四、儀器外觀尺寸結構及圖片 
1、整機尺寸：340*260*180mm 
2、機箱顏色：電腦白 


3、儀器結構：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標 
1、電氣規格 
a. 使用標準三插頭，由 220V 交流電供電，整機功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規范，請確保電源地線正確連接。 
2、測試范圍 
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內的可以按要求調整， 調整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區域。

產品名稱：化工原料水分儀 化工原料水份儀 產品型號：FD-C1 化工原料水分儀 化工原料水份儀   型號： FD-C1   本水分儀是引進*傳感器在國內推出的高性能、數字化水分測量儀器。儀器采用高周波原理，數字顯示，傳感器與主體合為一體，設有多個檔位用來測量各類堿活性染料、化學礦物原料、有機、無機化工原料、原油、重油、染料、樹脂、洗衣粉、金屬皂、助劑、溶液、奶粉、添加劑、、煤炭、化肥、中西藥等粉狀、顆粒狀、液體狀水分。該儀器測量水分范圍寬、精度高、顯示清晰、測量迅速、性能穩定、指標可靠，而且體積小、重量輕，可隨身攜帶在現場快速檢測，使用簡單方便。是化工行業檢測其產品水分的理想儀器。   主要特點   1、引進*傳感器，進口芯片。   2、*的傳感器設計及制作方法有出一般的穿透能力。   3、專有的傳感器技術較寬的工作范圍，可插入測量，快速顯示。   4、性能穩定、品質優良。   5、便攜式儀表外殼為專有設計。   6、儀表設計精巧、結構緊湊。   技術性能   1、測量水分范圍：0~80%    2、使用環境：-5℃～+50℃    3、精 度： 0%～1% 精度：±0.01% ；   1%～5% 精度：±0.1% ；   5%～20% 精度：±0.5% ；    20%～40% 精度：±1% ；   40%～80% 精度：±2%   4、響應時間：1秒    5、顯 示：3½位LCD液晶數字顯示   6、探針長度：200mm    7、電源：9V（6F22型）積層電池一節    8、體 積：160×60×27（mm）   9、重 量：200克   有1和2兩個檔位，1檔測量范圍是   0%～1%，2檔1%以上   選型：C1 測固體   C2 測液體