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OmniScan MX ECA/ECT-渦流探傷儀
  • OmniScan MX ECA/ECT-渦流探傷儀
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貨物所在地:北京北京市

更新時間:2024-09-17 21:00:05

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渦流探傷儀OmniScan MX ECA
用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。
渦流陣列檢測

OmniScan MX ECA

用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。

渦流陣列檢測

渦流陣列技術 
渦流陣列技術(ECA)以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據, 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈(使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優勢 
同單通道渦流技術相比,渦流陣列技術具有下列優勢:

  • 檢測時間大幅度降低。

  • 單次掃查覆蓋更大檢測區域。

  • 減小了機械和自動掃查系統的復雜性。

  • 提供檢測區域實時圖像,便于數據的判讀。

  • *地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。

  • 改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。


傳感器之間的多路轉換技術。


渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應檢測部件的外形。




用于腐蝕檢測的發射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。


用于表面裂痕檢測的發射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的式探頭。

請了解有關我們渦流陣列探頭的更多的信息

渦流陣列軟件

簡單的數據采集和分析顯示

采集模式顯示

分析模式顯示

  • C掃描視圖中的數據采集,可快速有效地檢測缺陷。

  • 分析模式下的數據選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。

  • 波幅、相位和位置測量。

  • 可調彩色調色板。

  • 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規單通道ECT探頭檢測相適應。

校準向導

  • 分步進行。

  • 一組中的所有通道可被同時校準,每個通道各有自己的增益和旋轉。

  • 波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。

報警

  • 3個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

  • 可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀(扇形、長方形、環形等)。

自動探頭識別和配置

  • 探頭被連接后,C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。

  • 頻率范圍保護可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。

高級實時數據處理

采集模式顯示

分析模式顯示

  • 實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。

  • 使用兩個頻率,可生成一個MIX信號,以去除干擾信號(如:提離、緊固件信號等)。

  • 數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例:在搭接處邊緣檢測出裂紋,因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果,特別是對小裂紋而言。

采集模式顯示

分析模式顯示

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