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CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測量儀 測厚儀
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  • CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測量儀 測厚儀

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貨物所在地： 上海上海
產(chǎn)地： 美國
更新時(shí)間： 2024-10-10 21:00:07
有效期： 2024年10月10日--2025年4月10日
已獲點(diǎn)擊： 199
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產(chǎn)品簡介

CDE DualMap 薄膜厚度測量 測厚儀，在可靠并受廣受歡迎的ResMap 168 平臺的基礎(chǔ)上，CDE DualMap 集成了一套的光譜膜厚測量系統(tǒng)，從而獲得了高精度的薄膜厚度測量能力。。。。。。

詳細(xì)介紹

CDE DualMap 薄膜厚度測量

 

薄膜厚度測量 測厚儀CDE DualMap 薄膜厚度測量 測厚儀

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