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詳細摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本多...

詳細摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚...

詳細摘要： 主動式防震系統主動式防振系統（ AVI）能夠為科研、工程和生產過程所需要的精密儀器提供一個穩定的測量環境。。。。

詳細摘要： 桌上型主動式隔振臺特點：*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動隔震。*自動高度調節讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動調節功能即使負載重心...

詳細摘要： 桌上型主動式減震臺*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面...

詳細摘要： 主動式減震系統*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面，避...

詳細摘要： UNICORN α500 系列低頻消磁系統（ EMI Canceling System，又稱消磁器），DC 與 AC 雙模式主動消磁器，采用高精度純直流測量/反...

詳細摘要： 一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統，可以用主動隔振系統消除共振。 KURASHIKI 通過在發展主動防震系統的同時補充了被動系統，主動防震系統...

詳細摘要： mini 桌上型主動式隔振臺新設計，易使用

詳細摘要： Lumina AT2薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...

詳細摘要： Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...

詳細摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細摘要： Filmetircs 光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細摘要： HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測...

詳細摘要： Filmetrics R54四探針電阻率測量儀是KLA薄膜電阻和導電率測繪系統，從半導體制造到實現可穿戴技術所需的柔性電子產品，薄膜電阻監控對于任何使用導電薄膜...

詳細摘要： Filmetrics R50四探針電阻率測量儀系列提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達4...

詳細摘要： Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可靠地薄膜測量...

詳細摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™技術，可同時采集高分辨率3D數據和Tr...