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真空衰減法無損檢驗包裝泄漏密封試驗儀VDL-01
真空衰減法無損檢驗包裝泄漏密封試驗儀VDL-01采用真空衰減原理對成品包裝進行微泄露檢測，測試儀適用于微量泄漏檢測、各種包裝容器完整性檢漏。可應用于安瓿瓶、西林瓶、HDPE瓶、預充針等醫藥包裝、食品包裝、化工行業包裝的泄露檢測。密封測試儀具有非破壞性、無損、無需樣品準備等優點。我司致力為藥品、食品的質量保駕護航。
標準
ASTM F2338-2009(2013)、YY-T0681.18-2020、美國藥典USP1207
原理
*符合ASTM F2338-2009（2013）、YY-T0681.18-2020和USP1207標準要求。將微泄露密封性測試儀主機連接到一個特別設計用來容納需要被測試的包裝物的測試腔內。儀器對測試腔進行抽真空，包裝物內外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內氣體通過漏孔擴散至測試腔內，傳感器檢測時間和壓力的變化關系，與標準值進行比較，判斷試樣是否泄漏。
真空衰減法無損檢驗包裝泄漏密封試驗儀VDL-01技術參數
真空度 | 0-100 kPa |
檢測靈敏度 | 1-3μm |
測試時間 | 約30s |
標準配置：主機、真空泵、測試腔1套、微型流量校準器
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