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日立分析儀器(上海)有限公司

PRODUCT DISPLAY

當前位置:日立分析儀器(上海)有限公司>>XRF光譜儀>>手持式X射線熒光光譜儀>> X-MET8000 系列手持式 XRF 光譜儀

手持式 XRF 光譜儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:X-MET8000 系列

品       牌:Hitachi/日立

廠商性質:生產商

產品資料:查看pdf文檔

所  在  地:上海市

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更新時間:2024-05-07 11:26:33瀏覽次數:6751次

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價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 手持式/便攜式 應用領域 食品,化工
手持式 XRF 光譜儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結果。

為什么選擇 X-MET 手持式 XRF 光譜儀

性能

X-MET提供輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結果。

通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結果可追溯和高度準確,則使用實證校準。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。

符合人體工學

X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度低。

堅固耐用而擁有成本低

  • 符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。

  • 通過MIL-STD-810G 耐用標準測試。

  • 其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。

高級數據管理

*靈活:可將多達100,000條結果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。


手持式 XRF 光譜儀應用


X-MET8000
Smart

X-MET8000
Optimum

X-MET8000
Expert

廢金屬回收 ? ? ?
材料可靠性鑒定(PMI)檢查
? ?
制造與 PMI QA/QC ? ? ?
貴金屬 ? ? ?

監管機構合規篩查

(消費品、包裝、原材料…)

?

?
X-MET8000
Expert CG

環境土壤篩查
?
X-MET8000
Optimum Geo
?
X-MET8000
Expert Geo
礦石和礦物 ?
X-MET8000
Optimum Geo
?
X-MET8000
Expert Geo
金屬鍍層厚度測量 ? ? ?
X-MET8000
Expert
/ Expert CG
科技考古
? ?
X-MET8000
Expert
/ Expert CG
/ Expert Geo

手持式XRF光譜儀應用于QA/QC

應用于材料可靠性鑒定

應用于廢舊金屬回收

應用于采礦

應用于土壤重金屬檢測

應用于合規性檢測

應用于鍍層測厚

應用于考古

應用于貴金屬和珠寶檢測


比較型號

X-MET8000 Smart

  • X射線管:40kV

  • 濾光片:單一

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 高樣本溫度:400ºC

  • 符合 IP54 等級

  • Thick Kapton®窗口:保護以預防探測器的窗戶損壞

  • 校準:基本參數法(FP)

  • 內置攝像頭 (可選)


X-MET8000 Optimum

  • X射線管:40kV or 50kV

  • 濾光片:6位濾光轉換器

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)

  • 符合 IP54 等級

  • 可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護

  • 校準:基本參數法 (包括輕元素分析)

  • 內置攝像頭(可選)

  • 小光班準直器(可選)

  • 針對所有元素(從鎂到鈾)進行優先分析的六位濾光片


X-MET8000 Expert

  • X射線管:50kV

  • 濾光片:6位濾光轉換器

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)

  • 符合 IP54 等級

  • 可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護

  • 校準方法:自動跳轉的經驗系數法(可進行追溯)

  • 內置攝像頭

  • 小光班準直器 (可選)

  • 針對所有元素,從鎂到鈾,的優先分析的六位濾光片



 

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