16
當前位置：日立分析儀器（上海）有限公司>>涂鍍層測厚儀>>X射線熒光鍍層測厚儀>> FT110AXRF鍍層測厚儀
高通量鍍層分析
x熒光測厚儀 FT110A 是一款臺式 XRF 分析儀，旨在應對生產中鍍層分析的挑戰。強大的 X 射線熒光技術與自動定位功能相結合，有助于提高電鍍車間的生產力，同時確保組件符合最高標準。
準確性和可靠性是支持質量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供當今電鍍組件所需的準確性。更新的成像系統、自動樣品定位和大樣品臺使該分析儀非常易于使用，提高了通量并減少了人為錯誤。功能強大的 FT110A XRF鍍層測厚儀能夠同時測量多達四層以及基材，將全天候支持您的設施滿足最高的行業電鍍規范。
產品亮點
專為高通量生產而設計，來看 FT110A XRF鍍層測厚儀如何支持您的質量控制。
-
強大的高靈敏度技術可在幾秒鐘內提供結果
-
對成品安全的無損檢測
-
自動化功能提高生產力
-
分析多達四層和基材，加上電鍍液
-
易于非專業操作員使用
-
測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
-
大樣品艙可容納各種樣品
-
可定制的選項以適合您的應用
| FT110A | |
| 元素范圍 | Ti – U |
| 探測器 | 正比計數器系統 |
| 樣品艙設計 | 開閉式或開槽式 |
| 準直器數量 | 2 或 4 |
| 最小準直器 | 0.025 x 0.4 mm |
| XY軸樣品臺選擇 | 程控或固定 |
| XY軸樣品臺行程 | 250 x 200 mm |
| 程控Z軸行程 | 150 mm |
| 最大樣品尺寸 | 500 x 400 x 150 mm |
| 樣品聚焦 | 聚焦激光和可選的自動聚焦 |
| 樣品視圖 | 攝像頭視圖和可選的第二廣角攝像頭 |
| 測量點識別 | 可選 |
| 軟件 | X-ray Station |
