濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
整機(jī)外罩對(duì)外界水蒸氣阻隔性能的監(jiān)控方案
檢測(cè)樣品:整機(jī)外罩
檢測(cè)項(xiàng)目:水蒸氣阻隔性能
方案概述:電子元器件對(duì)周圍水蒸氣含量要求嚴(yán)格,因此用于其外殼的整機(jī)外罩應(yīng)具有很高的阻濕性,防止電子元器件出現(xiàn)老化等質(zhì)量問(wèn)題。本文利用Labthink蘭光自主研發(fā)制造的W3/230水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)對(duì)整機(jī)外罩樣品進(jìn)行水蒸氣透過(guò)率測(cè)試,通過(guò)詳細(xì)介紹設(shè)備測(cè)試方法、測(cè)試原理及試驗(yàn)過(guò)程,為相關(guān)電子器件生產(chǎn)企業(yè)嚴(yán)控外殼阻濕性提供有效的監(jiān)控方案。
整機(jī)外罩對(duì)外界水蒸氣阻隔性能的監(jiān)控方案
摘要:電子元器件對(duì)周圍水蒸氣含量要求嚴(yán)格,因此用于其外殼的整機(jī)外罩應(yīng)具有很高的阻濕性,防止電子元器件出現(xiàn)老化等質(zhì)量問(wèn)題。本文利用Labthink蘭光自主研發(fā)制造的W3/230水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)對(duì)整機(jī)外罩樣品進(jìn)行水蒸氣透過(guò)率測(cè)試,通過(guò)詳細(xì)介紹設(shè)備測(cè)試方法、測(cè)試原理及試驗(yàn)過(guò)程,為相關(guān)電子器件生產(chǎn)企業(yè)嚴(yán)控外殼阻濕性提供有效的監(jiān)控方案。
關(guān)鍵詞:電子元器件、老化、整機(jī)外罩、水蒸氣透過(guò)率、阻濕性、水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)
1、意義
現(xiàn)今,人類對(duì)提高電子元器件的使用壽命的研究日益深入,而其外包裝的有效阻濕性對(duì)其使用壽命的延長(zhǎng)至關(guān)重要。因在高濕的環(huán)境下零部件易受潮,導(dǎo)致在使用過(guò)程中塑體與零部件引腳處產(chǎn)生裂縫,進(jìn)而引起殼體滲漏,芯片逐漸受潮失效。因此,電子元器件生產(chǎn)企業(yè)通常在電子元器件外面添加整機(jī)外罩裝置,以阻隔水蒸氣,保護(hù)內(nèi)部元器件,防止出現(xiàn)提前老化的現(xiàn)象。進(jìn)而,生產(chǎn)企業(yè)應(yīng)嚴(yán)格監(jiān)控整機(jī)外罩包裝的阻濕性能。
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