| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,汽車 |
X-RYA膜厚測量儀標準片XRF-2020校正塊
通用型:
標準片
可應用各種X射線測厚儀品牌
用于校正鍍層測厚儀
標準曲線及添加應用程序
X射線測厚儀標準片：
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標準片可訂制，均附帶標準證書
X射線鍍層測厚儀標準片X-RAY膜厚儀校正片
是X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
是膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。
以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
X-RYA膜厚測量儀標準片XRF-2020校正塊
銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規格
均可訂制各種厚度值
校準片均附校準證書
微先鋒膜厚儀標準片
通用型:適應不同品牌鍍層測厚儀校正及測量
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