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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>其它晶圓缺陷檢測設備> 玻璃方阻測試儀

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玻璃方阻測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發、設計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術,替代進口產品,使半導體材料測試設備國產化。

主要產品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案

憑借*的技術和豐富的產品設計經驗申請各項知識產權20余項,已發展成為中國大陸少數具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商,產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

玻璃方阻測試儀介紹:

在探索導電玻璃的世界時,一個關鍵參數常常被提及,那就是方阻,或稱方塊電阻,它實質上是衡量導電膜表面電阻率的重要指標。

方阻的內涵與重要性:

方阻之所以備受重視,源于它能揭示薄膜的厚度和透過率。無論是ITO、FTO導電玻璃,還是蒸發鋁膜、導電漆膜和銅箔電路板,方阻都是衡量其性能的一個核心參數。形象地講,方塊電阻就像一個正方形導電材料中,邊到邊的電阻值,無論邊長尺寸如何變化,其電阻值保持恒定。

計算方阻的奧秘:

深入理解方阻的計算方法,是解鎖其科學價值的關鍵。計算公式揭示了其中的關聯:當導電膜的長度(l)、寬度(w)和厚度(d)(即膜厚)確定時,方阻R可以通過電阻率ρ、長度和截面積的乘除關系得出,即R = ρ * l / (w * d) = (ρ/d) * (l/w),當l和w相等時,簡化為R = (ρ/d)。這個簡單的公式,為我們揭示了方阻背后的物理原理。

在實際應用中,玻璃方阻測試儀的數值與導電膜厚度的關系尤為緊密。一個精確的方阻測量,能夠幫助我們優化材料選擇,確保導電性能的穩定和效率的提升。



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