PZ-WLI-150 白光干涉3D形貌測量儀

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 北京品智創思精密儀器有限公司
品牌 品智創思
型號 PZ-WLI-150
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2024/10/27 19:38:18
訪問次數 256

產品標簽

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北京品智創思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創思)，始終專注于精密影像測量領域的影像分析及測量軟件的設計與研發。品智創思公司從事表面科學、分析儀器、計量檢測設備及實驗室儀器系統集成商;致力于為工業制造和科研領域用戶提供顯微分析，圖像分析，缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質管理, 計量，過程控制等專業檢測設備，依托強有力的技術資源及完善專業的售后服務與維修體系，向用戶提供專業成熟細致的服務及全面地解決方案。

公司致力于提高工業產品的質量品質! 迄今為止，品智創思已為多家用戶提供產品檢測設備，用戶遍布機械、電子、醫療、軌道交通、汽車、航空、航天、研究所、計量站、等行業，為用戶提供的儀器和完善的解決方案，為用戶工作提供強有力的技術支持。

品智創思秉承“專注質量、誠信服務、立足創新、真誠合作”的理念，為您提供、多角度的服務。

北京品智創思精密儀器有限公司愿與您精誠合作，共拓美好未來。

展開

影像測量儀，光學顯微鏡，測量顯微鏡，試驗機，接觸角測量儀，表面張力儀，超景深顯微鏡，金相顯微鏡，投影測量儀，磨刀機顯微鏡

詳細信息 在線詢價

產地類別	國產	價格區間	15萬-20萬
應用領域	醫療衛生,生物產業,能源,電子,制藥

產品簡介：

白光干涉3D形貌測量儀結合相移垂直掃描的前沿技術與顯微光干涉技術，不需要復雜光路調整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D納米深度的表面檢測分析不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析，更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析
并追溯至IS0國際規范。白光干涉3D形貌測量儀具有的測量能力，可在幾秒內就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數據，檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。

白光干涉3D形貌測量儀

無論是拋光面，還是粗糙面，甚至是高透明材質(例如石英),只要有超過1%以上的反射率就能夠被檢測。適合各種材料與微元件表面特征和微尺寸檢測，應用領域包含:觸控面板(Touch Panel)
太陽能板(Solar Cell)
晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
微機電元件(MEMSComponents)
平面液晶顯示器(LCD)
高密度線路印刷電路板(HDIPCB)
IC封裝(IC Package)
精密微機械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析與元件微表面研究。