美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度
| 參考價 | ￥ 99999 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 皕赫科學儀器（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/12/12 15:26:45
- 訪問次數(shù) 288
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,電氣,綜合 |
|---|
美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度 光學3D表面輪廓測量儀
美國Sumix MAX-QS+干涉儀MAX-QS+ 是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纖 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊連接器。MAX-QS+ 具有便攜式設(shè)計、自動對焦、100 微米光纖高度掃描范圍和 1.1 微米分辨率。
該設(shè)備通過 USB 3.0 電纜和 12V 直流電源適配器連接到筆記本電腦或臺式計算機。
Sumix MAX-QS+ 配備行業(yè)的 MaxInspect™ 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。
Sumix MAX-QS+干涉儀特征：
1：高分辨率 2D 和 3D 表面輪廓
探索小至 1.1 μm 的表面細節(jié)。
2：自動對焦
將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。
3：結(jié)合異常檢測和幾何測試
加快巡檢速度，提高工作效率。
4：快速測量
在 2 秒或更短的時間內(nèi)測量單個光纖連接器。
5：顯微鏡模式
在測量之前目視檢查連接器端面。
6：行業(yè)的 MaxInspect™ 自動檢測軟件
測量曲率半徑、頂點偏移、纖維高度等。
7：超過 1000 微米的光纖高度掃描范圍
準確檢測具有較大不連續(xù)性和特殊連接器的套圈表面。
8：數(shù)據(jù)庫連接
將所有本地站點的測量數(shù)據(jù)存儲在一個地方，并輕松地將 Sumix 設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中
MAX-QS+干涉測量系統(tǒng)包括：
MAX-QS+干涉儀
用于設(shè)備驗證的光學平面標準
USB 3.0 數(shù)據(jù)線
AC適配器
內(nèi)六角扳手
箱
MaxInspect™ 軟件許可證
Sumix MAX-QS+ 規(guī)格
系統(tǒng)
測量技術(shù)：非接觸式;邁克爾遜干涉測量法
鏡頭：NA = 0.25;平坦度誤差 < λ/50
照明 燈：綠色 LED （530 nm）
視場角：1.1 × 0.9 毫米
橫向分辨率：1.1微米
放大：500×（數(shù)碼變焦已關(guān)閉）
重點：自動對焦和手動對焦
最大圖像尺寸：2590 × 1940 像素
適合連接器/套圈（PC 和 APC）：SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、SMA、MT-RJ
顯微鏡模式：是的
美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度
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