AP-DC-75 電磁吸合式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
- 公司名稱 廣東愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司
- 品牌 愛佩科技/A-PKJ
- 型號(hào) AP-DC-75
- 產(chǎn)地 東莞市常平鎮(zhèn)橋?yàn)r北門村工業(yè)區(qū)內(nèi)2棟一樓A
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/24 8:05:50
- 訪問次數(shù) 681
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主要生產(chǎn)與銷售的產(chǎn)品有:恒溫恒濕試驗(yàn)箱、交變濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱、紫外光試驗(yàn)箱、氙燈老化箱、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室、沙塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、各種振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、拉力試驗(yàn)機(jī)、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、按健壽命試驗(yàn)機(jī)、紙帶耐磨擦試驗(yàn)機(jī)、工業(yè)烘烤箱
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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電磁吸合式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)是一種專門用于檢測(cè)產(chǎn)品**率并及早發(fā)現(xiàn)的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的研究、品質(zhì)、生產(chǎn)測(cè)試檢驗(yàn)中。其主要工作原理是,當(dāng)電流通過激振器的線圈時(shí),產(chǎn)生磁場(chǎng),與固定在激振器上的永磁體相互作用,產(chǎn)生電磁力,從而驅(qū)動(dòng)振動(dòng)臺(tái)臺(tái)面產(chǎn)生振動(dòng)。通過調(diào)整電流的大小和頻率,可以控制振動(dòng)的幅度和頻率。
工作臺(tái)面尺寸(W)500×(D)500mm
工作臺(tái)體尺寸(W)500×(D)500×(H)320mm
控制箱尺寸(W)350×(D)250×(H)720mm
ISO 2247包裝.滿裝的運(yùn)輸包裝和單元貨物.固定低頻率振動(dòng)試驗(yàn)
ISO 13355包裝-全部,填充運(yùn)輸包裝和單位承載-垂直任意振動(dòng)試驗(yàn)
IEC 60068基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
ASTM D999船運(yùn)集裝箱振動(dòng)測(cè)試的試驗(yàn)方法
ASTM D4728運(yùn)輸集裝箱隨機(jī)震動(dòng)試驗(yàn)方法
ASTM D3580產(chǎn)品振動(dòng)試驗(yàn)(垂直線性運(yùn)動(dòng))的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4857包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)
GB/T 2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
1.調(diào)頻范圍 5~600Hz
2.產(chǎn)品負(fù)載 50kg
3.頻率精度 0.1 Hz
4.*大加速度 20g
5.控制方式 工業(yè)觸摸屏
6.振幅 0-5mm(可顯示)
7.激振方式 電磁式
8.調(diào)幅方式 電子式調(diào)幅
9.振動(dòng)方向 三軸(X+Y+Z)
10.振動(dòng)波形 正弦波
11.測(cè)試模式 定頻、掃頻、倍頻、程式、對(duì)數(shù)、隨機(jī)
12.設(shè)時(shí)范圍 0-9999H/M/S分任意設(shè)定
13.循環(huán)次數(shù) 0-9999任意設(shè)定
14.電源電壓 220/50±5%(V/Hz)
15.消耗功率 1.5(KVA)
16.冷卻方式 風(fēng)冷
17.選配件 加速度傳感器、PC監(jiān)控軟件、電腦及打印機(jī)
該設(shè)備通常包括電磁激振器、控制系統(tǒng)和支撐結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵部件。電磁激振器是試驗(yàn)臺(tái)的核心部件,負(fù)責(zé)產(chǎn)生振動(dòng);控制系統(tǒng)則負(fù)責(zé)控制電磁激振器的工作,發(fā)出指令并驅(qū)動(dòng)電磁激振器產(chǎn)生電磁力;而支撐結(jié)構(gòu)則是試驗(yàn)臺(tái)的骨架,用于支撐和固定各個(gè)部件,并確保整個(gè)系統(tǒng)在振動(dòng)過程中不發(fā)生變形或位移。
電磁吸合式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)具有高精度、高效率、低成本等優(yōu)勢(shì),可以用于檢測(cè)PCB電路板上的焊接點(diǎn)、清洗點(diǎn)和測(cè)試點(diǎn)的質(zhì)量,以及測(cè)試電子元器件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、耐久性和可靠性。此外,它還可以用于分析破壞點(diǎn)、易**點(diǎn),幫助改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì),提高產(chǎn)品質(zhì)量。
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