Agilent安捷倫4156B半導體參數測試儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監測不同類型設備中的電流和電壓響應。附加的功能：

高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU

同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發生器單元 (±40 V)

時域測量：60μs – 可變間隔，多 10,001 個點

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能

自動化：內置 HP Instrument BASIC、觸發 I/O 功能

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執行

執行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執行圖形分析

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數據

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

使用內置的 HP Instrument BASIC 執行測量和分析

自檢、自動校準

Agilent安捷倫4156B半導體參數測試儀Agilent HP 4156B 是下一代精密半導體參數分析儀。您將獲得好的數字掃描參數分析儀、可靠性測試儀、功能強大的故障分析工具和自動進貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

這個新系列經過明確設計，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到終封裝部件檢查和現場故障分析，提高您的半導體質量。