技術指標

測量參數 Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ

測量電路形式：串聯和并聯

工作頻率：1 MHz～3 GHz

頻率分辨率：10 kHz

信號源特性：

振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路)

電平顯示單位：V，I，dBm

連接器：APC-3.5

輸出阻抗(額定值)：50Ω

觸發：內部，外部，手動和GPIB

阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ

基本測量精度 Z|:1%；D:0.01

測量時間：10 ms

接口：GPIB，處理器接口

顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器

儲存：內置HDD/FDD，備用SRAM存儲器

一般指標

工作溫度/濕度：10～40℃/相對濕度15%～80%

預熱時間：30分鐘

電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(大值)

尺寸：主機：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長)

主要技術資料

·儀器指標:

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

在低測度信號電平上具有優良的測量重復性

基本精度為1%

高速測量9ms

·Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，

可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。

與反向測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行測量。

·生產 質量可靠

安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優良的

測試重復性還可以 提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。

·系統組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。

安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具 安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具 安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具

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