狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2
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- 公司名稱 深圳市奧德賽創精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/12/10 13:13:55
- 訪問次數 801
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術,通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過單點光電探測器測量強度,再通過掃描狹縫/ 小孔的位置,復原整個光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優點:
• 取樣尺度可以到微米量級,遠小于CCD 像素,可獲得較高的空間分辨率而無需放大;
• 采用單點探測器,適應紫外~ 中遠紅外寬范圍波段;
• 單點探測器具備很高的動態范圍,一個探頭可同時適應弱光和強光分析。
掃描式光束分析儀的缺點:
• 多次掃描重構光束分布,不適合輸出不穩定的激光;
• 不適合非典型分布的激光,近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系;在很多應用,如小光斑測量(焦點測量)、紅外高分辨率光束分析等方面,掃描式光束分析儀具備du特的優勢。
NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀, 源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發生產掃描式光束分析儀,在光通訊、LD/LED 測試等領域享有盛名。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。
特點和功能:
• 可測量連續激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光
• 取樣間隔可以調節小到5.7nm,使其能夠極其精確地測量非常小的光斑,
• 可顯示2D/3D 光斑形貌
• 掃描速度可調諧
• 16 位數字化信號采集,35dB 高動態范圍,20Hz *刷新頻率
• 支持用戶進行二次開發,便于集成
• 探頭可添加功率計選項
• 硅、鍺和熱釋電探測器可選,測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別
• 不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑
• 所有的NanoScan 的校準都可以朔源NIST 標準以確保*終的精度
• 符合國際標準ISO/DIN 11146 及ISO13694。(1989~1996 年,Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會的工作,制訂出了ISO/DIN11146 標準)
型號指標:
軟件功能:
軟件功能:
NanoScan 提供Standard 與Professional 兩種功能版本:
狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2 狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2